[发明专利]一种量产测试仪及量产老化测试系统无效

专利信息
申请号: 201210010861.9 申请日: 2012-01-13
公开(公告)号: CN102539984A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 何宏;李志雄;尹慧 申请(专利权)人: 深圳市江波龙电子有限公司
主分类号: G01R31/01 分类号: G01R31/01
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳市南山区科发路8*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明适用于测试技术领域,提供了一种量产测试仪及量产老化测试系统。其中的量产测试仪包括:老化测试单元;插接口,用于连接待量产测试设备;温度采集单元,用于采集待量产测试设备周围的环境温度;控制单元,用于检测到插接口连接有待量产测试设备后,调用量产工具,通过插接口完成对待量产测试设备的量产工序,之后获取温度采集单元采集的环境温度,当环境温度大于或等于预设温度时,控制老化测试单元对处于老化测试中的待量产测试设备进行质量检测;供电单元。该量产测试仪在进行量产老化测试时,无需将量产测试后的待量产测试设备取下再连接到单独的老化测试仪上,减少了测试工序,缩短了测试时间,提高了测试效率,且节约了人力成本。
搜索关键词: 一种 量产 测试仪 老化 测试 系统
【主权项】:
一种量产测试仪,其特征在于,所述量产测试仪包括:老化测试单元;至少一个插接口,用于分别连接待量产测试设备;温度采集单元,用于采集所述待量产测试设备周围的环境温度;控制单元,用于检测到所述插接口连接有所述待量产测试设备后,调用量产工具,并通过所述插接口完成对所述待量产测试设备的量产工序,之后获取所述温度采集单元采集的所述环境温度,并当所述环境温度大于或等于一预设温度时,控制所述老化测试单元对处于老化测试中的所述待量产测试设备进行质量检测;存储单元,用于存储所述控制单元调用的所述量产工具,以及所述老化测试单元得到的质量检测结果数据;供电单元,用于向所述控制单元供电。
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