[发明专利]接触探测器及相关检查方法

摘要

一种用于检测机床或测量机中部件（13）的位置或尺寸的接触探测器（1；1’；1’’；1’’’），包括具有保护性壳体（3）支撑框架（2），以及具有测头（11）以接触将检查的部件（13）的可移动臂组（5）。探测器包括具有由聚合物材料制成的层状压电传感器（25）的检测设备（23），诸如聚偏二氟乙烯，其连接至支撑框架，并且固定在支撑和定位区域（7）处，可移动臂组在等压支架系统（17）限定的位置处依靠其上。连接至支撑框架的调节电子设备（30）包括处理器件，用于处理由检测设备提供的力信号（M），将其与阈值（S）比较，并且产生接触信号（T）。调节电子器件包括差动电荷放大器（3）和处理系统（55），以根据检测得的力信号的最近值而动态地改变阈值。

主权项

一种用于检测机床或测量机中部件（13）的位置或尺寸的接触探测器（1；1’；1’’；1’’’），其包括：支撑框架（2），其具有保护性壳体（3），以及支撑和定位区域（7），可移动臂组（5），其局部地收纳在保护性壳体（3）内，并且包括携带适于接触将检查的部件（13）的测头（11）的臂（9），推进设备（15），设置支撑框架（2）和可移动臂组（5）之间，用于驱使可移动臂组（5）抵靠支撑和定位区域（7），限制和定位系统（17），位于支撑和定位区域（7）处可移动臂组（5）和制成框架（2）之间检测设备（23），具有层状压电传感器（25），连接至支撑框架（2），并且适于响应于施加至测头（11）的力而提供力信号（M），以及处理器件（30），连接至检测设备（23）并且适于处理所述力信号（M），将所述力信号（M）与阈值（S）比较，并且提供指示在测头（11）和将检查的部件（13）之间发生接触的接触信号（T），其特征在于处理器件（30）包括处理系统（55），适于提供检测得的所述力信号（M）的多个值的平均值，并且因而动态地改变所述阈值（S）。