[发明专利]多柱并联电阻片柱电流分布不均匀系数测量方法有效
申请号: | 201110431160.8 | 申请日: | 2011-12-21 |
公开(公告)号: | CN102565580A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 胡淑慧;赵冬一;王兰义;江栋;常鹏;李玲;徐学亭 | 申请(专利权)人: | 南阳金冠电气有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R19/00 |
代理公司: | 郑州红元帅专利代理事务所(普通合伙) 41117 | 代理人: | 季发军 |
地址: | 473000 *** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 本发明公开了一种多柱并联电阻片柱电流分布不均匀系数测量方法,其主要特点是先将被测量的非线性金属氧化物电阻片柱组中的各电阻片柱随机组合分成若干电阻片柱分组,分别测量选出各电阻片柱分组中电流值最大的1柱组成一个电流最大值电阻片柱组,再测量其电流分布。然后进行归一化计算,得出各柱电阻片柱归一化后的标准电流值,最后计算出多柱并联电阻片柱电流分布不均匀系数。该方法能够对阻片柱最大电流分布不均匀系数的精确测量,而且测量方法简单,操作简便,测量数据可靠。 | ||
搜索关键词: | 并联 电阻 电流 分布 不均匀 系数 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种多柱并联电阻片柱电流分布不均匀系数测量方法,其特征在于:它是按一下方法步骤进行:1)将被测量非线性金属氧化物电阻片柱组中的各电阻片柱随机组合分成若干电阻片柱分组;2)在设定的冲击电流波形和幅值下,测量电阻片柱分组的电流分布,并挑选出各电阻片柱分组中的电流值最大的1柱;3)将挑选出来的各电阻片柱分组电流值最大的1柱,组成一个电流最大值电阻片柱组,在设定的标准冲击电流波形和幅值下,测量其电流分布; 4)将各电阻片柱分组的所有电阻片柱分别以步骤3)中测得的各该分组电流值最大的1柱的电流值为标准,按照分流比例进行归一化计算,其归一化系数公式为: ξm=Iv/ Imax n式中: ξm——第m电阻片柱分组的电流归一化系数 Iv——第m电阻片柱分组中电流值最大的1柱在电流最大值电阻片柱组中测得的电流值, Imax m——编号为m电阻片柱分组中电流值最大的1柱的电流值,将每个电阻片柱分组中的所有电阻片柱的电流值分别乘以相应分组的归一化系数,得出每一柱电阻片柱归一化后的标准电流值: Iξn=ξm×In式中: Iξn——第n柱电阻片柱归一化后的标准电流值, In——第n柱电阻片柱的实测的电流值,按照上述公式计算出电阻片柱组的各柱电阻片柱在标准冲击电压下归一化后的标准电流值,分别记为:Iξ1,Iξ2, Iξ3,Iξ4,… .. Iξn;5)按下列公式计算电阻片柱组的最大电流分布不均匀系数:
其中:β代表整组电阻片柱的最大电流分布不均匀系数; n代表整组电阻片柱的柱数; Max代表 [ I1 , I2, I3,….,In ]中的最大值;计算得出的最大电流分布不均匀系数β即为被测量非线性金属氧化物电阻片柱组的电流分布不均匀系数。
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