[发明专利]温度保护开关的寿命测试方法无效
| 申请号： | 201110421353.5 | 申请日： | 2011-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN103163455A | 公开（公告）日： | 2013-06-19 |
| 发明（设计）人： | 周明杰;王永清 | 申请（专利权）人： | 海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明工程有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 何平 |
| 地址： | 518100 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种温度保护开关的寿命测试方法，包括以下步骤：将温度保护开关与电子元器件串联，所述温度保护开关贴附在电子元器件上面；将所述串联电子元器件的温度保护开关置于温度箱内，通额定的电流并记录温度保护开关正常工作断开总次数所用的时间T及温度保护开关断开额定次数n所用的时间t；其中所述温度箱内的测试温度设为温度保护开关断开次数最多的温度；根据公式N＝n*T/t计算温度保护开关的寿命，其中，N为温度保护开关正常工作断开的总次数，T为温度保护开关正常工作断开总次数所用的时间，t为温度保护开关断开额定次数n所用的时间。上述方法能够在短时间内快速获得温度保护开关的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 温度 保护 开关 寿命 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种温度保护开关的寿命测试方法，包括以下步骤：将温度保护开关与电子元器件串联，所述温度保护开关贴附在电子元器件上面；将所述串联电子元器件的温度保护开关置于温度箱内，通额定的电流并记录温度保护开关正常工作断开总次数所用的时间T及温度保护开关断开额定次数n所用的时间t；其中，所述温度箱内的测试温度设为温度保护开关断开次数最多的温度；根据公式N＝n*T/t计算温度保护开关的寿命，其中，N为温度保护开关正常工作断开的总次数，T为温度保护开关正常工作断开总次数所用的时间，t为温度保护开关断开额定次数n所用的时间。
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