[发明专利]一种层析成像几何参数的校准方法有效

专利信息
申请号: 201110402573.3 申请日: 2011-12-07
公开(公告)号: CN102488528A 公开(公告)日: 2012-06-13
发明(设计)人: 骆清铭;杨孝全;龚辉;孟远征 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 刘丽君
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种层析成像几何参数的校准方法,涉及层析成像技术领域。该方法包括以下步骤:采集层析成像中的全角度投影图像,对所述采集到的全角度投影图像分别进行负对数运算,将每个角度的负对数运算后的图像进行叠加,得到叠加图像,利用所述叠加图像建立与几何参数相关联的目标函数,利用单纯形-模拟退火算法对所述目标函数进行全局最小值优化。本发明不需要任何精密的模体就可以实现多个几何参数的标定;由于利用了叠加图像,因此对噪声不敏感,抗噪声能力强;此外,本发明采用的单纯形-模拟退火全局最优化算法,可以避免陷入局部极小值,保证了多个几何参数同时求解的精度与准确度。
搜索关键词: 一种 层析 成像 几何 参数 校准 方法
【主权项】:
一种层析成像几何参数的校准方法,其特征在于,包括以下步骤:采集层析成像中的全角度投影图像,对所述采集到的全角度投影图像分别进行负对数运算,将每个角度的负对数运算后的图像进行叠加,得到叠加图像,利用所述叠加图像建立与几何参数相关联的目标函数,利用单纯形‑模拟退火算法对所述目标函数进行全局最小值优化。
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