[发明专利]一种单层ITO的自动校准方法无效
| 申请号： | 201110380859.6 | 申请日： | 2011-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN102520819A | 公开（公告）日： | 2012-06-27 |
| 发明（设计）人： | 朱建锋 | 申请（专利权）人： | 苏州瀚瑞微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215163 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种单层ITO的自动校准方法，包括实时采集数据、基准值、低通滤波值和校准值，其方法主要通过所述单层ITO上电时和上电后两个状态分别校准以完成整个单层ITO的自动校准。本发明所述的方法，不但简单，而且适用于各种环境，可以快速准确的对实时采集数据进行校准，不会因为外界的干扰而产生无辜死机或者其它异常现象。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单层 ito 自动 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种单层ITO的自动校准方法，包括实时采集数据、基准值、低通滤波值和校准值，其步骤如下：所述单层ITO上电时，首先启动实时采集数据，侦测所述数据的感应值；其次设置一个基准值，且所述基准值用于跟踪所述感应值；然后，根据所述感应值与所述基准值的差，得出所述校准值，完成单层ITO上电校准；所述单层ITO上电后，先检测所述单层ITO上是否有触控对象的存在，若不存在，则放弃校准；若存在，且若所述感应值不大于所述基准值，则继续判断在一定时间内，每个校准值是否有变化，若没有变化，则认为是干扰值，那么继续跟踪所述感应值并重新计算校准值；若有变化，则所述基准值不变，根据所述校准值进行有效计算。
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