[发明专利]基于微扫描的像质检测用哈特曼波前传感器无效
| 申请号： | 201110370458.2 | 申请日： | 2011-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN102507019A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 付跃刚;刘妍;刘智颖;王加科;张磊;高天元 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00;G02B26/06;G02B3/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 130022 *** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明属于光学检测领域，涉及一种哈特曼传感器。该装置由光路缩束系统、微扫描装置、微透镜阵列、CCD探测器、数字图像处理器以及波前处理机组成。将微扫描装置放置于平行光管与微透镜阵列之间，经过微扫描，由CCD采集到被测波前4帧图像，经过数字图像处理器重建成单帧图像，再由波前处理机进行质心计算及波前重构。本发明可提高哈特曼传感器的像质检测精度，扩大哈特曼传感器的使用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 扫描 质检 测用哈特曼波前 传感器 | ||
【主权项】：
基于微扫描的像质检测用哈特曼波前传感器，包括光路缩束系统，微扫描装置以及相应的数字图像处理器，微透镜阵列，CCD探测器以及波前处理机；其特征在于在缩束系统之后微透镜阵列之前放置微扫描装置。
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