[发明专利]一种利用高频场对磁约束聚变装置第一壁进行清洗的方法有效

专利信息
申请号: 201110369135.1 申请日: 2011-11-20
公开(公告)号: CN102500589A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 龚先祖;吴金华;赵燕平;胡建生;李建刚 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: B08B9/08 分类号: B08B9/08
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 成金玉
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种利用高频场对磁约束聚变装置第一壁进行清洗的方法。实现步骤为:(1)在磁约束聚变装置真空室中预先充入0.1-10Pa的气体;(2)在磁约束聚变装置真空室中布置高频天线,然后以磁约束聚变装置真空室为负极,伸入在磁约束聚变装置真空室中的高频天线为正级,在负极和正极之间施加电压为3-5KV、频率为20-50KHz、功率为2-10KW的高频场;(3)在高频场的电离下,气体被击穿并产生稳定的高频等离子体放电,将对磁约束聚变装置真空室第一壁进行有效的轰击,在经过1-10小时的放电清洗后,达到对第一壁的清洗。本发明能提高清洗效率1倍。
搜索关键词: 一种 利用 高频 约束 聚变 装置 第一 进行 清洗 方法
【主权项】:
一种利用高频场对磁约束聚变装置第一壁进行清洗的方法,其特征在于实现步骤为:(1)在磁约束聚变装置真空室中预先充入0.1‑10Pa的气体;(2)在磁约束聚变装置真空室中布置高频天线,然后以磁约束聚变装置真空室为负极,伸入在磁约束聚变装置真空室中的高频天线为正级,在负极和正极之间施加电压为3‑5KV、频率为20‑50KHz、功率为2‑10KW的高频场;(3)在高频场的电离下,气体被击穿并产生稳定的高频等离子体放电,将对磁约束聚变装置真空室第一壁进行有效的轰击,在经过1‑10小时的放电清洗后,达到对第一壁的清洗。
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