[发明专利]利用ZnS纳米荧光探针测定奈韦拉平的方法

摘要

本发明涉及一种利用巯基乙酸修饰的ZnS纳米颗粒作为纳米荧光探针对奈韦拉平的快速测定方法，属光分析检测技术领域。本发明主要是利用ZnS纳米荧光探针与待测物奈韦拉平发生作用后荧光强度发生变化，通过荧光光谱分析对奈韦拉平进行灵敏的定量分析测定。本发明的要点是通过优化温度、加入次序、pH值和反应时间这些实验条件，在最佳条件下将荧光探针应用于奈韦拉平的定量检测。本发明的测定过程具有简单、快速、灵敏、准确等特点。

主权项

利用硫化锌纳米荧光探针测定奈韦拉平的方法，其特征在于该方法具有以下的步骤：A. ZnS纳米荧光探针的制备：取0.0100 g合成的白色纳米ZnS纳米颗粒于烧杯中，加入一定量的二次蒸馏水，置于自动搅拌装置上不断搅拌；向烧杯中缓慢滴入配制好的0.10 M的NaOH溶液，调节溶液的pH值至12；取2.0 ml的巯基乙酸于另一烧杯中，用二次蒸馏水将其稀释至pH值为2；而后用稀释后的巯基乙酸溶液逐滴加入纳米ZnS溶液中，直至溶液pH值在9；继续不断地搅拌上述溶液约3 h；修饰后的纳米ZnS溶液上层为溶胶，烧杯底部可见少量白色溶胶沉淀，用滴管吸取上层溶液即ZnS纳米荧光探针；B. 荧光测试条件的选择：设置激发波长为268 nm，设置激发和发射狭缝宽度均为5 nm, 扫描范围设置为278 nm至350 nm；C. ZnS纳米荧光探针对奈韦拉平的测定：在一系列棕色、干燥的25 ml容量瓶中加入一系列已知浓度的奈韦拉平标准溶液和1 ml已经合成好的巯基乙酸修饰的ZnS溶液；然后将其用pH=7磷酸缓冲溶液稀释后定容至刻度；将配好的溶液在黑暗处放置1 h后做荧光测试；在4.6 μM ~ 200 μM范围内，利用ZnS纳米荧光探针的相对荧光强度与奈韦拉平浓度的线性关系测定奈韦拉平。