[发明专利]测试装置无效
| 申请号： | 201110256764.3 | 申请日： | 2011-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN102435939A | 公开（公告）日： | 2012-05-02 |
| 发明（设计）人： | 桥本伸一 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327;G01R31/12 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试被测试器件的测试装置，包括：电源部，其向被测试器件提供电源电力；比较部，其检出表示所述被测试器件的状态的特性值，将特性值与预定的阈值进行比较；阻断部，其根据在比较部上的比较结果，阻断电源部向被测试器件提供的所述电源电力；以及控制部，其改变在比较部上的阈值或用于检出特性值的检出时序中的至少一方。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种测试被测试器件的测试装置，其特征在于，包括：电源部，其向所述被测试器件提供电源电力；比较部，其检测出表示所述被测试器件的状态的特性值，将所述特性值与预定的阈值进行比较；阻断部，其根据在所述比较部中的比较结果，阻断从所述电源部向所述被测试器件提供的所述电源电力；以及控制部，其改变在所述比较部中的阈值或检测所述特性值的检出时序中的至少一方。
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