[发明专利]一种利用物质自身物理特征识别的防伪方法和系统有效
| 申请号： | 201110239817.0 | 申请日： | 2011-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN102955930B | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 魏恺言;袁兰平;乔椿 | 申请（专利权）人： | 深圳兆日科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人： | 王永文 |
| 地址： | 518040 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用物质自身物理特征识别的防伪方法和系统，所述物质可透光；其方法包括以下步骤：在待鉴别的物质上预先确定采集物理特征的位置，将待鉴别物质放置在光源与采集图像的光学系统及光学传感器之间，获取透射后光学采集到的物理特征图像；对物理特征图像进行图像处理，提取物理特征数据，并记录到特征数据库或用二维码方式记录在物质上；与特征数据库或二维码中记录存储的物理特征数据进行模式识别，判读是否一致，以判断该物质的真伪。本发明利用物质自身物理特征识别的防伪方法和系统由于采用了在可透光的物质上，通过透射能够低成本的实现对其物理特征的图像采集，并通过相应的模式识别后，实现物质真伪的防伪鉴别。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 物质 自身 物理 特征 识别 防伪 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种利用物质自身物理特征识别的防伪方法，所述物质可透光；其方法包括以下步骤：A、 在待鉴别的物质上预先确定采集物理特征的位置，将待鉴别物质放置在光源与采集图像的光学系统及光学传感器之间，获取透射后光学采集到的物理特征图像；B、 对物理特征图像进行图像处理，提取物理特征数据，并记录到特征数据库或二维码中；C、 在鉴别该物质真伪时，通过步骤A的光学系统采用同样的倍数，在同样的位置获取其物理特征图像，并进行同样的图像数据处理，提取图像中的物理特征数据；D、 与特征数据库或二维码中中记录存储的物理特征数据进行模式识别，判读是否一致，以判断该物质的真伪。
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