[发明专利]光学式检测装置、显示装置以及电子设备有效
| 申请号： | 201110184862.0 | 申请日： | 2011-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN102314265A | 公开（公告）日： | 2012-01-11 |
| 发明（设计）人： | 高桥正辉 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/042 | 分类号： | G06F3/042 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李伟;王轶 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学式检测装置、显示装置以及电子设备。该光学式检测装置的特征在于：包含：照射部，其射出照射光；受光部，其接收被对象物反射的上述照射光；放大部，其放大上述受光部的受光检测信号；检测部，其基于上述放大部输出的信号来输出上述对象物的位置确定信息；判断部，其基于上述位置确定信息来判断上述对象物的位置；和耦合电容器，其设置在上述放大部的输出节点与上述检测部的输入节点之间。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 装置 显示装置 以及 电子设备 | ||
【主权项】：
一种光学式检测装置，其特征在于，包含：照射部，其射出照射光；受光部，其接收被对象物反射的上述照射光；放大部，其放大上述受光部的受光检测信号；检测部，其基于上述放大部输出的信号来输出上述对象物的位置确定信息；判断部，其基于上述位置确定信息来判断上述对象物的位置；和耦合电容器，其设置在上述放大部的输出节点与上述检测部的输入节点之间。
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