[发明专利]一种I2S接口的功能测试方法有效

专利信息
申请号: 201110183198.8 申请日: 2011-06-30
公开(公告)号: CN102346234A 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 刘梅英;周敏心;薛志明 申请(专利权)人: 福州瑞芯微电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 宋连梅
地址: 350000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种I2S接口的功能测试方法,将待测SOC的I2S接口和外部CODEC设备其中三个引脚对应连接,然后通过各自的I2C接口上的引脚对应连接,最后把I2S接口上的I2S_SDO和I2S_SDI引脚直接短接起来;将待测SOC的I2S接口设置为slave模式,通过所述外部CODEC设备的I2C接口对外部CODEC设备设置为master模式,并设置相应的工作频率和采样率;进行相关初始化:准备测试数据,启动待测SOC的I2S接口发送数据;和接收数据:将相应的接收缓冲器的数据读到相应的存储器中,把接收到的数据和发送的数据进行的对比,得到最终的测试结果。本发明通过模拟I2S接口实际的应用进行功能测试和验证,使测试范围更为全面。
搜索关键词: 一种 i2s 接口 功能 测试 方法
【主权项】:
一种I2S接口的功能测试方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤10、将待测SOC的I2S接口和外部CODEC设备的I2S_MCLK、I2S_SCLK、I2S_LRCK三个引脚对应连接,然后将待测SOC上用于辅助I2S接口测试的I2C接口和所述外部CODEC设备的I2C接口上的引脚对应连接,最后把I2S接口上的I2S_SDO和I2S_SDI引脚直接短接起来;步骤20、待测SOC的I2S接口设置为slave模式,通过所述外部CODEC设备的I2C接口对外部CODEC设备设置为master模式,并设置相应的工作频率和采样率;步骤30、进行相关初始化:指定步骤10中与所述外部CODEC设备的I2C接口对应连接后的所述待测SOC上用于辅助I2S接口测试的I2C接口作为测试使用接口;外部CODEC设备上电初始化,设置工作模式为MIC模式或LINE模式,并设置合适的采样频率;步骤40、准备测试数据,需采用可全面测试的数据组合;步骤50、启动待测SOC的I2S接口发送数据;步骤60、待测SOC的I2S接口接收数据:将相应的接收缓冲器的数据读到相应的存储器中,把接收到的数据和发送的数据进行的对比,得到最终的测试结果。
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