[发明专利]一种64bit位宽的并行CRC32校验方法及装置有效
| 申请号： | 201110103920.2 | 申请日： | 2011-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN102158316A | 公开（公告）日： | 2011-08-17 |
| 发明（设计）人： | 吴卫海 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L1/00 | 分类号： | H04L1/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 解婷婷;龙洪 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 64bit位宽的并行CRC32校验方法及装置，所述方法包括：对输入数据以64bit进行位宽匹配，若判断出输入数据不足64bit，则将预设的56比特数据中低8i比特数据作为填充比特添加到所述输入数据的尾部，得到64bit的数据；其中，i＝1、2、...、7；对所述64bit的数据进行CRC32-D64校验，然后将得到的校验结果与所述填充比特对应的CRC校验值进行比较，若两者相同，则判定CRC校验正确；若两者不同，则判定CRC校验错误；所述填充比特对应的CRC校验值是利用校验矩阵Fi32计算得到并预先存储的。采用本发明后，使得对连续数据的校验在不损失性能的前提下，极大的缩减了资源，提升Fmax的频率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 64 bit 并行 crc32 校验 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种64bit位宽的并行CRC32校验方法，包括：对输入数据以64bit进行位宽匹配，若判断出输入数据不足64bit，则将预设的56比特数据中低8i比特数据作为填充比特添加到所述输入数据的尾部，得到64bit的数据；其中，i＝1、2、...、7；对所述64bit的数据进行CRC32‑D64校验，然后将得到的校验结果与所述填充比特对应的CRC校验值进行比较，若两者相同，则判定CRC校验正确；若两者不同，则判定CRC校验错误；所述填充比特对应的CRC校验值是利用校验矩阵Fi32计算得到并预先存储的。
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