[发明专利]静电电容式输入装置和用于计算导体接近位置的计算方法无效
| 申请号： | 201110043903.4 | 申请日： | 2011-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN102163111A | 公开（公告）日： | 2011-08-24 |
| 发明（设计）人： | 大槻佳之;笠嶋康史 | 申请（专利权）人： | 罗姆股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种静电电容式输入装置和用于计算导体接近位置的计算方法。该静电电容式输入装置包括：多个第一检测电极，其沿第一方向排列且各自在与上述第一方向交叉的第二方向上延伸；多个第二检测电极，其沿上述第二方向排列且各自在上述第一方向上延伸；存储部，其随着第一导体和各第一检测电极之间的静电电容的变化将通过各第一检测电极得到的值分别作为第一方向检测值存储，并且，随着上述第一导体和各第二检测电极之间的静电电容的变化将通过各第二检测电极得到的值分别作为第二方向检测值存储；和计算部。上述计算部执行生成多个对第一值和第二值进行运算而得到的第一映射值的处理，其中，第一值是对上述多个第一方向检测值的至少一个进行运算而得到的值，第二值是对上述多个第二方向检测值的至少一个进行运算而得到的值；和使用上述多个第一映射值，对上述第一导体是否接近上述多个第一检测电极和上述多个第二检测电极进行判断的处理。 | ||
| 搜索关键词： | 静电 电容 输入 装置 用于 计算 导体 接近 位置 计算方法 | ||
【主权项】：
一种静电电容式输入装置，其特征在于，包括：多个第一检测电极，其沿第一方向排列且各自在与所述第一方向交叉的第二方向上延伸；多个第二检测电极，其沿所述第二方向排列且各自在所述第一方向上延伸；存储部，其随着第一导体和各第一检测电极之间的静电电容的变化将通过各第一检测电极得到的值分别作为第一方向检测值存储，并且，随着所述第一导体和各第二检测电极之间的静电电容的变化将通过各第二检测电极得到的值分别作为第二方向检测值存储；和计算部，其中所述计算部执行生成多个对第一值和第二值进行运算而得到的第一映射值的处理，其中，第一值是对所述多个第一方向检测值的至少一个进行运算而得到的值，第二值是对所述多个第二方向检测值的至少一个进行运算而得到的值；和使用所述多个第一映射值，对所述第一导体是否接近所述多个第一检测电极和所述多个第二检测电极进行判断的处理。
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