[发明专利]基于微离轴显微干涉投影的折射率层析装置有效

专利信息
申请号: 201010604252.7 申请日: 2010-12-24
公开(公告)号: CN102539381A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 来建成;薛亮;王绶玙;李振华 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱显国
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于微离轴显微干涉投影的折射率层析装置,本发明将微离轴干涉、偏振相移、希尔伯特相位提取和图像高速采集等技术相结合,通过将微离轴干涉和偏振相移技术相结合,同步获得两幅干涉图,然后提取携带有细胞样品折射率空间分布信息的相位投影数据,可将干涉投影数据获取速度提高3倍以上,在此基础上,通过电控平移台的二维扫描,获得细胞样品折射率空间分布的多方向投影数据,然后实现折射率空间分布的三维重构,具有装置简单、速度快、操作简便和成本低等突出优点。
搜索关键词: 基于 微离轴 显微 干涉 投影 折射率 层析 装置
【主权项】:
1.一种基于微离轴显微干涉投影的折射率层析装置,其特征在于:包括偏振He-Ne激光器[1]、扩束准直镜[2]、第一消偏振分光棱镜[3]、第二消偏振分光棱镜[7]、共焦显微物镜组即前显微物镜[4]和后显微物镜[6]、第一五维调节架[15]、第二五维调节架[16]、电控三维平移台[5]、1/4波片[9]、第一全反镜[8]、第二全反镜[10]、偏振分光棱镜[11]、第一高速CMOS数字图像采集装置[12]和第二高速CMOS数字图像采集装置[13];线偏振He-Ne激光器[1]之后放置扩束准直镜[2]进行扩束准直,其后放置一消偏振分光棱镜[3]进行偏振分束;消偏振分光棱镜[3]的第一个输出面之后放置前显微物镜[4]和后显微物镜[6],前显微物镜[4]和后显微物镜[6]的共焦点处放置有待测细胞样品,待测细胞样品放置在电控三维平移台[5]上,前显微物镜[4]放置在第一五维调节架[15]上,后显微物镜[6]放置在第二五维调节架[16]上,后显微物镜[6]之后放置消偏振分光棱镜[7];消偏振分光棱镜[3]的第二个输出面之后放置第一全反镜[8]将光路转90度,第一全反镜[8]之后放置1/4波片[9]进行偏振态变化,1/4波片[9]之后放置第二全反镜[10]将光路再转90度;第二全反镜[10]之后放置第二消偏振分光棱镜[7]对相互正交的入射光进行合束,第二消偏振分光棱镜[7]之后放置偏振分光棱镜[11],偏振分光棱镜[11]的第一输出面之后放置第一高速CMOS数字图像采集装置[12],第二输出面之后放置第二高速CMOS数字图像采集装置[13],第一高速CMOS数字图像采集装置[12]和第二高速CMOS数字图像采集装置[13]同时分别获取相移为的干涉图,用以实时提取多方向干涉投影数据。
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