[发明专利]基于光学检测的E型磁材分选方法

摘要

基于光学检测的E型磁材分选方法，涉及一种基于光学检测的磁材分选方法。它解决现有的E型磁材的检测方法的检测效率低、检测精度差的问题。其方法是：对待测E型磁材进行拍照，获得E型磁材料图像，并对图像进行磁材边缘的提取、边缘的拟合以及长度的测量获得待测E型磁材的长度信息进而进行分选。为提高测量的精度，在方法中增加有图像去噪过程，包括Hough变换去噪和最小二乘拟合去噪；同时，为了提高拟合直线的质量，本方法应用亚像素求解技术并通过拟合直线获取待测E型磁材的边缘。本发明适用于E型磁材分选。

主权项

基于光学检测的E型磁材分选方法，其特征是：它由以下步骤实现：步骤一、使摄像头的光轴与所述待测E型磁材的E型面相垂直，然后采用摄像头对待测E型磁材的E型面进行拍照，获得待测E型磁材的E型面图像；所述图像的像素为1280×1024；步骤二、将步骤一获得的待测E型材料图像与标准模板图像进行匹配，获得待测E型材料图像的测量区域；步骤三、采用Sobel边缘检测方法联合Canny边缘检测方法对步骤二获得的待测E型材料图像的测量区域进行检测，获得待测E型材料宽度方向上两条边的边缘图像；步骤四、对步骤三获得的待测E型材料宽度方向上两条边的边缘图像采用Hough变换法去噪，获得去噪后的两条边的边缘图像；步骤五、对步骤四中获得去噪后的两条边的边缘图像进行水平搜索，确定图像中的两条边的边缘中每条边的边缘上的所有像素关键点，并确定每个像素关键点与邻近的所有像素点之间的亚像素点，并对每个像素关键点与邻近的所有像素点之间的邻近的所有亚像素点进行求解，获得每个像素关键点的亚像素级位置，综合所有像素关键点的亚像素级位置，获得宽度方向上两条边的亚像素级边缘图像；步骤六、对步骤五中宽度方向上两条边的亚像素级边缘图像采用最小二乘直线拟合法去噪，获得去噪后的宽度方向上两条边的亚像素级边缘图像；步骤七、将步骤六获得的去噪后的宽度方向上两条边的亚像素级边缘图像采用加权最小二乘直线拟合法进行计算，获得宽度方向上两条边之间的距离，即是待测E型磁材E型面的长度；步骤八、判断步骤七获得的待测E型磁材E型面的长度是否位于预先设定的标准长度范围的区间内，如果判断结果为是，则获得待测E型磁材是合格品；如果判断结果为否，则获得待测E型磁材是不合格品。