[发明专利]一种用于PCM聚焦系统磁场分布测量的装置

摘要

本发明公开了一种用于PCM聚焦系统磁场分布测量的装置，涉及微波器件技术，包括四个主要部分：调节旋钮组件、磁钢固定板组件、矩形支架以及装置托架。该装置可以在一定范围内精确调节PCM聚焦系统中两组相对聚焦平面之间的距离，通过可拆卸机构可广泛适应不同的聚焦方案，并可为磁测量探针提供确定的运动路径。本发明装置针对带状电子注器件的研制和测试，具有调节精度高、通用性强、操作简便的优点，能够满足实际工程中对PCM聚焦系统进行精密调节和测量以及优选聚焦方案的要求。

主权项

一种用于PCM聚焦系统磁场分布测量的装置，用于对带状注器件中聚焦系统的测试，其特征在于：包括调节旋钮组件、磁钢固定板组件、支架和装置托架；其中，四个调节旋钮组件与四组磁钢固定板组件一一对应，分别固接在框状矩形支架的四个侧面上，两组磁钢固定板组件和两个调节旋钮组件分别位于两垂直侧面，另两组磁钢固定板组件和两个调节旋钮组件分别位于两水平侧面；框状矩形支架经定位杆与装置托架动连接，矩形支架的水平侧面与定位杆、装置托架的纵轴平行，框状矩形支架的框内中心部分，在装置托架的纵向水平套设有导向板，导向板与矩形支架四个侧面之间为四个磁钢固定板组件。