[发明专利]基于光控取向液晶的微偏振检偏器阵列及其制备方法

摘要

本发明提出了一种用于同时提取入射光所有斯托克斯参数的微偏振检偏器阵列。该微偏振检偏器阵列至少包含一个超像素，其中该超像素含有三个或者三个以上的子像素，并且每个子像素用来提取入射光中的一种不同的偏振分量。此外，该微偏振检偏器阵列包括一个第一取向层，一个第二取向层和一个置于第一和第二取向层之间的液晶层。其中该液晶层中的液晶分子根据第一和第二取向层取向方向来取向以形成上述超像素。最后，本发明还提供了一种制备上述基于液晶的光控取向微偏振检偏器阵列的方法。

主权项

一种用于测量入射光中偏振分量的仪器，包括：一个具有多个像素的微偏振检偏器像素阵列，其中每个像素对入射光中的三种或者三种以上偏振分量进行实质上同步的测量，其中所述入射光中的三种或者三种以上偏振分量包括圆偏振分量，其中所述微偏振检偏器像素阵列包括：用于接收具有一种或者一种以上偏振分量的入射光的第一取向层，该第一取向层具有第一光控取向方向；与第一取向层对准的用于输出偏振特性被改变的光的第二取向层，该第二取向层具有三个或者三个以上以预先确定的图案来排列的区域，其中该三个或者三个以上区域中的每个区域都具有与第二取向层的其它区域不同的第二光控取向方向；一个置于第一取向层和第二取向层之间并且被第一取向层和第二取向层根据第一光控取向方向和第二光控取向方向来取向的液晶层，其中该液晶层的不同区域对于入射光会有不同的偏振特性改变，从而使得经由第二取向层不同区域输出的偏振特性被改变的光包含有入射光中的不同偏振分量。