[发明专利]电容式触控面板多点侦测方法无效
| 申请号： | 201010135212.2 | 申请日： | 2010-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN102193696A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 叶恒铭;陈亦达 | 申请（专利权）人： | 万达光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 逯长明 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电容式触控面板多点侦测方法，运用手指依序触碰触控面板的跳跃式触碰而产生的跳跃式触碰电流来确认其为多点触碰状态，再依据接续的跳跃式触碰坐标来推算真实的触碰坐标。以此电容触碰的真实坐标的最后触碰点的移动轨迹，作为多点触碰轨迹的判断依据。因此，本发明提供的电容式触控面板的多点触碰侦测方法，能够实现多点触碰侦测。 | ||
| 搜索关键词： | 电容 式触控 面板 多点 侦测 方法 | ||
【主权项】：
一种电容式触控面板的多点触碰侦测方法，其特征在于，包含以下步骤：于第一时间依据第一侦测电流决定第一对象的第一触碰坐标；于第二时间依据第二侦测电流决定第二对象的第二触碰坐标；依据该第二时间与该第一时间的时间差计算由该第一触碰坐标移动至该第二触碰坐标的第一移动速度；及当该第一移动速度大于默认值，则判断为跳跃状态，以该第二触碰坐标做为该第一触碰坐标与第三触碰坐标的中点而决定第三对象的该第三触碰坐标，判断该第一触碰坐标、该第三触碰坐标为第一、第二真实触碰坐标。
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