[发明专利]阻抗校正装置及其方法有效
| 申请号： | 201010119412.9 | 申请日： | 2010-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN102163964A | 公开（公告）日： | 2011-08-24 |
| 发明（设计）人： | 王文山;吴亭莹 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | H03H11/04 | 分类号： | H03H11/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明为一种阻抗校正装置及其方法，是运用步阶产生器产生步阶讯号予待测电路，并检测由待测电路所传递回来的反射讯号，其中量测讯号为步阶讯号与反射讯号的和，并可测得量测讯号得到特性阻抗值。当量测讯号大于起始所量测的步阶讯号时，调整校正电阻的阻抗值变大；当量测讯号小于起始所量测的步阶讯号时，调整校正电阻的阻抗值变小。经由校正阻抗值的调整，进而使得校正阻抗值与特性阻抗值达到阻抗匹配的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 阻抗 校正 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种阻抗校正装置，耦接一待测电路，该阻抗校正装置包含：一步阶讯号产生器，用以产生一步阶讯号；一参考阻抗，其一端耦接该步阶讯号产生器，另一端耦接该待测电路；一检测单元，耦接该参考阻抗的该另一端，用以检测经由该参考阻抗的该步阶讯号与该步阶讯号经由该待测电路后的一量测讯号；一阻抗计算单元，耦接该检测单元，用以依据该参考阻抗的阻抗值、该步阶讯号与该量测讯号计算该待测电路的一特性阻抗值；一校正阻抗；及一阻抗值设定单元，耦接该阻抗计算单元与该校正阻抗，用以依据该特性阻抗值调整该校正阻抗的阻抗值，以匹配该特性阻抗值。
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