[发明专利]高速模拟开关无效

专利信息
申请号: 200910254420.1 申请日: 2009-12-21
公开(公告)号: CN101764598A 公开(公告)日: 2010-06-30
发明(设计)人: 朱樟明;李光辉;刘帘曦;杨银堂 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H03K17/687 分类号: H03K17/687
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种高速模拟开关,主要解决现有高速模拟开关器电路复杂问题。它由三个NMOS晶体管连接组成,第一晶体管的漏端(D1)接输入端,源端(S1)接输出端;第二晶体管的源端(S2)和体端(B2)接第一晶体管的体端(B1),第二晶体管的漏端(D2)接第一晶体管的漏端(D1)并作为模拟开关的输入端,第三晶体管的漏端(D3)接第二晶体管的源端(S2),第三晶体管的体端(B3)与源端(S3)相连并接地;第一晶体管的栅端(G1)与第二晶体管的栅端(G2)接同相控制时钟,第三晶体管的栅端(G3)接反相控制时钟,实现所述三个NMOS晶体管的有序导通与关断。本发明具有电路元件少,电路结构简单的优点,可用于中低速模数转换器的采样保持电路。
搜索关键词: 高速 模拟 开关
【主权项】:
一种高速模拟开关,其特征在于,包括第一NMOS晶体管MN1、第二NMOS晶体管MN2和第三NMOS晶体管MN3,该第一NMOS晶体管MN1的漏端(D1)接模拟输入电平,源端(S1)作为输出端;该第二NMOS晶体管MN2的源端(S2)与第二NMOS晶体管MN2的体端(B2)相连,并与第一NMOS晶体管MN1的体端(B1)相连,第二NMOS晶体管MN2的漏端(D2)与第一NMOS晶体管MN1的漏端(D1)相连作为模拟开关的输入端,第三NMOS晶体管MN3的漏端(D3)接第二NMOS晶体管MN2的源端(S2),第三NMOS晶体管MN3的体端(B3)与第三NMOS晶体管MN3的源端(S3)相连并接地。
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