[发明专利]基于液晶光阀原理相位测量的校准方法、校准装置和测距装置有效

专利信息
申请号: 200910214576.7 申请日: 2009-12-29
公开(公告)号: CN101762809A 公开(公告)日: 2010-06-30
发明(设计)人: 杜鑫;李曙英;杜学璋 申请(专利权)人: 广州北才光电科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S17/08
代理公司: 广州市华创源专利事务所有限公司 44210 代理人: 梁新杰
地址: 511400 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明基于液晶光阀原理相位测量的校准方法、校准装置和测距装置属于光电测距领域,系统光波发射装置发射一光波通过第一液晶光阀至被测目标,光波被被测目标反射折回,折回的光波通过光学装置聚焦,由收装置接收,接收的光波作为系统测量的外光路;光波在通过第一液晶光阀的同时,部分光波被第一液晶光阀反射,反射的光波通过第二液晶光阀,通过第二液晶光阀的光波直接被接收装置接收,通过第二液晶光阀的光波将作为系统相位测量基底参考的内光路;系统在工作时将先后切换第一液晶光阀与第二液晶光阀,使接收装置将先后接收到的内光路光波、外光路两路光波进行相位比较,输出消除基底参考的信号。本发明实现相位补偿和校准,提高了激光测距的测量精度,增加了系统的测距稳定度。
搜索关键词: 基于 液晶 原理 相位 测量 校准 方法 装置 测距
【主权项】:
一种基于液晶光阀原理相位测量的校准方法,包括步骤:系统光波发射装置发射一光波通过第一液晶光阀至被测目标,光波被被测目标反射折回,折回的光波通过光学装置聚焦,由收装置接收,接收的光波作为系统测量的外光路;光波在通过第一液晶光阀的同时,部分光波被第一液晶光阀反射,反射的光波通过第二液晶光阀,通过第二液晶光阀的光波直接被接收装置接收,通过第二液晶光阀的光波将作为系统相位测量基底参考的内光路;系统在工作时将先后切换第一液晶光阀与第二液晶光阀,使接收装置将先后接收到的内光路光波、外光路两路光波进行相位比较,输出消除基底参考的信号。
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