[发明专利]强度关联远场无透镜成像装置有效
申请号: | 200910195346.0 | 申请日: | 2009-09-08 |
公开(公告)号: | CN101701903A | 公开(公告)日: | 2010-05-05 |
发明(设计)人: | 韩申生;龚文林;张鹏黎;沈夏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/49 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种强度关联远场无透镜成像装置,特点是该装置包括热光源、沿该热光源发出的光束的前进方向设有分光棱镜,在该分光棱镜的透射光束方向依次是置于远场的待测物体和位于该待测物体反射方向的点探测器;在该分光棱镜的反射光束方向是置于远场的参考光路面探测器,所述的点探测器和参考光路面探测器的输出端同时连接执行数据采集和进行强度关联运算的计算机,所述的热光源、点探测器和参考光路面探测器同时由一个同步信号发生器同步触发控制同时工作。通过对物光路和参考光路探测器记录的强度信息进行关联运算,可获得待测物体的实空间像。 | ||
搜索关键词: | 强度 关联 远场无 透镜 成像 装置 | ||
【主权项】:
一种强度关联远场无透镜成像装置,特征在于该装置包括热光源(1)、沿该该热光源(1)发出的光束的前进方向设有分光棱镜(2),在该分光棱镜(2)的透射光束方向依次是置于远场的待测物体(3)和位于待测物体(3)反射方向的点探测器(4);在该分光棱镜(2)的反射光束方向是置于远场的参考光路面探测器(5),所述的点探测器(4)和参考光路面探测器(5)的输出端同时连接执行数据采集和进行强度关联运算的计算机(6),所述的参考光路面探测器(5)的探测面到热光源(1)中心的距离z和待测物体(3)的被探测面到热光源(1)中心之间的距离z1满足下列关系: | zz 1 z - z 1 | > 2 D 2 λ 其中:D为热光源的横向直径大小;λ为热光源的波长,所述的热光源(1)、点探测器(4)和参考光路面探测器(5)同时由一个同步信号发生器同步触发控制同时工作。
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