[发明专利]一种光合辐射照度计及其测量方法有效
| 申请号： | 200910102364.X | 申请日： | 2009-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN102012266A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 潘建根;李倩 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/30 | 分类号： | G01J3/30;G01J1/00 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 林宝堂 |
| 地址： | 310053 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光合辐射照度计及其测量方法，照度计包括一个光谱仪，一个宽波段辐射探头，二者都与微电子处理单元电连接，宽波段辐射探头的光谱灵敏度与某一光辐射系统的响应曲线相匹配。光谱仪和宽波段辐射探头同时测量被测光，使用光谱修正系数校正宽波段辐射探头的测量值，大幅降低由探头的光谱失匹配带来的误差；根据光合辐射照度和光谱可计算出被测光的绝对光谱功率，可进一步通过计算得到其它系统下的光合辐射照度量值。本发明的光合辐射照度计对光谱仪和宽波段辐射探头的精度要求不高，易于实现，且使用方便，能够同时实现多个系统下的光合辐射照度测量，测量精度较高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光合 辐射 照度计 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
一种光合辐射照度计，其特征在于：包括一个用于测量光谱功率分布的光谱仪(1)，一个宽波段辐射探头(2)，所述光谱仪(1)与微电子处理单元(3)电连接，所述宽波段辐射探头(2)与所述微电子处理单元(3)电连接。
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