[发明专利]基于光源电调制的光学透过率测试装置无效
| 申请号： | 200910066872.7 | 申请日： | 2009-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN101532907A | 公开（公告）日： | 2009-09-16 |
| 发明（设计）人： | 曹国华;苏成志;姜涛;向阳;于正林;丁红昌 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B27/09 |
| 代理公司： | 长春科宇专利代理有限责任公司 | 代理人： | 曲 博 |
| 地址： | 130022吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 基于光源电调制的光学透过率测试装置属于光学测试技术领域。现有测试装置采用机械斩光器调制测试光，所得到的交流光并不是严格的矩形波，光电探测器所给出的电信号也就不是严格的矩形波信号，因此，测试精度较低。并且，由于机械斩光器为大型精密机械部件，体积大、价格高，直接导致测试装置体积庞大、价格昂贵。本发明其结构为，光源与电源构成回路，光源、准直透镜、聚光透镜光学同轴，积分球进光口位于聚光透镜焦点处，光电探测器位于积分球球体远离进光口处，光电探测器接微处理器，信号发生器的脉冲调制信号输出端与可控开关管相连，脉冲控制信号输出端与微处理器相连，可控开关管位于光源与电源构成回路上。本发明应用于光学元件的光学透过率测试。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光源 调制 光学 透过 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种基于光源电调制的光学透过率测试装置，光源(1)与电源(10)构成回路，光源(1)、准直透镜(2)、聚光透镜(4)光学同轴，积分球(5)进光口位于聚光透镜(4)焦点处，光电探测器(6)位于积分球(5)球体远离进光口处，其特征在于，光电探测器(6)接微处理器(12)，信号发生器(13)的脉冲调制信号输出端与可控开关管(14)相连，信号发生器(13)的脉冲控制信号输出端与微处理器(12)相连，可控开关管(14)位于光源(1)与电源(10)构成回路上。
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