[发明专利]消除荧光测定中内滤效应的新装置及测试新方法无效
申请号: | 200910015755.8 | 申请日: | 2009-06-04 |
公开(公告)号: | CN101581668A | 公开(公告)日: | 2009-11-18 |
发明(设计)人: | 刘汝涛;潘星任;宗万松;秦鹏飞;滕跃;池振兴 | 申请(专利权)人: | 山东大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 济南圣达专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 张 勇 |
地址: | 250100山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种消除荧光测定中的内滤效应的新装置及测试的新方法。它通过实验来测定内滤效应实际的影响程度,从而消除其影响,该方法操作简单便捷、经济适用、结果可靠、可以解决以前方法中所存在的问题。其结构为:它包括由样品池和吸收池构成的荧光分光光度计用光路装置,所述该光路装置中吸收池为L型,样品池为正方型,L型吸收池半包围样品池,且样品池的宽度为吸收池宽度的两倍。 | ||
搜索关键词: | 消除 荧光 测定 中内滤 效应 新装置 测试 新方法 | ||
【主权项】:
1.一种消除荧光测定中的内滤效应的光路系统新装置,它包括由样品池和吸收池构成的荧光分光光度计用光路装置,其特征是,所述该光路装置中吸收池为L型,样品池为正方型,L型吸收池半包围样品池,且样品池的宽度为吸收池宽度的两倍。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于山东大学,未经山东大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910015755.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:磁性多孔化学电极的制备方法
- 下一篇:医疗废弃物处理装置