[发明专利]一种使片上系统进入测试模式的装置及方法有效
| 申请号： | 200810217042.5 | 申请日： | 2008-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN101387686A | 公开（公告）日： | 2009-03-18 |
| 发明（设计）人： | 肖伟;王惠刚 | 申请（专利权）人： | 炬力集成电路设计有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 519085广东省珠海市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于集成电路领域，提供了一种使片上系统进入测试模式的装置及方法，所述测试装置包括：接测试模式选择信号发生单元，用于产生一测试模式选择信号；以及测试模式信号解析单元，用于对所述测试模式选择信号发生单元产生的测试模式选择信号进行解析，并根据解析结果控制待测SoC进入相应的测试模式，其内置于待测SoC中。本发明中，在测试模式下可以通过一个复用的或独立的输入引脚接收测试模式选择信号，根据该测试模式选择信号的电平变化次数或占空比来达到设定测试模式的目的，从而实现了使用较少的pin来控制SoC的测试模式，大大减少了测试模式下的pin成本，通用性、可操作性强，简单易用，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 使片上 系统 进入 测试 模式 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种使片上系统进入测试模式的装置，其特征在于，所述装置包括：测试模式选择信号发生单元，用于产生一测试模式选择信号；以及测试模式信号解析单元，用于对所述测试模式选择信号发生单元产生的测试模式选择信号进行解析，并根据解析结果控制待测SoC进入相应的测试模式，其内置于待测SoC中。
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