[发明专利]检测电磁辐射、尤其是红外辐射的设备无效

专利信息
申请号: 200810111056.9 申请日: 2008-06-10
公开(公告)号: CN101339073A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: 伯努瓦·杜邦;米歇尔·维兰 申请(专利权)人: ULIS股份公司
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20;G01J5/24
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 李春晖;李德山
地址: 法国弗雷*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 检测电磁辐射、尤其是红外辐射的设备包括入射辐射敏感(活动)的单元测辐射热仪的阵列和基本上辐射不敏感(盲)的附加行的测辐射热仪,活动和盲测辐射热仪形成于基底,基底形成有顺序寻址阵列每个行和盲测辐射热仪的行的读取电路,同时偏压同一行测辐射热仪。电路包括基于附加盲测辐射热仪产生参考电流的源,及电流镜构成的复制参考电流到阵列每列的装置。阵列每列包括分流大部分本底电流或共模电流的补偿结构,包括附加行的盲测辐射热仪,并与电流积分器相关联,积分器对流过当前正读取的行的活动测辐射热仪的电流和盲测辐射热仪输出的补偿电流间的电流差积分。形成信号或读取附加行期间,参考电流的副本源于盲测辐射热仪经开关输出的电流。
搜索关键词: 检测 电磁辐射 尤其是 红外 辐射 设备
【主权项】:
1.一种检测电磁辐射、尤其是检测红外辐射的设备,包括对入射辐射敏感并被称作“活动”测辐射热仪的单元测辐射热仪阵列,和基本上对所述辐射不敏感并被称作“盲”测辐射热仪的附加行的测辐射热仪(12),所述活动和盲的测辐射热仪被形成在基底上,在基底上形成有读取电路,用来顺序地对所述阵列的每个行和对所述盲测辐射热仪行进行寻址,处于同一个行中的每个测辐射热仪被同时施加偏压,其特征在于:所述读取电路也包括用于基于也形成在所述基底上的附加盲测辐射热仪(16)来产生参考电流(Iref)的源,以及由电流镜(17)构成的将所述参考电流(Iref)复制到所述阵列的每一列的装置;所述阵列的每一列包括用来分流大部分本底电流或者共模电流的补偿结构,所述补偿结构包括所述附加行的盲测辐射热仪(12),并与电流积分器(9、10、11)相关联,所述电流积分器用来对流过当前正被读取的行中的活动测辐射热仪的电流和盲测辐射热仪(12)所输出的补偿电流之间的电流差进行积分;在形成信号或者在读取所述附加行期间,参考电流(Iref)的副本源于由盲测辐射热仪(12)通过开关(18)输出的电流。
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