[发明专利]磁体的磁通密度与温度关系测试装置无效

专利信息
申请号: 200810061666.2 申请日: 2008-05-21
公开(公告)号: CN101587175A 公开(公告)日: 2009-11-25
发明(设计)人: 李东;闫阿儒;陈仁杰;李卫 申请(专利权)人: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 宁波诚源专利事务所有限公司 代理人: 袁忠卫;景丰强
地址: 315201浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种磁体的磁通密度与温度关系测试装置,其特征在于该装置包括样品室(1),信号探测机构(2);信号采集机构(3),可将上述信号探测机构(2)产生的信号采集并输送;温控机构(100);以及计算机控制系统(6)。与现有技术相比,本发明的优点在于:利用电磁感应原理采用提拉法或低频振动法使信号探测机构获得感应电动势,然后经信号采集机构将信号传递到计算机控制系统,进行数据转换后得到不同温度下的磁通密度值,整体过程操作方便,测试快捷且精度高,同时结构简单,易于推广。
搜索关键词: 磁体 密度 温度 关系 测试 装置
【主权项】:
1、一种磁体的磁通密度与温度关系测试装置,其特征在于该装置包括样品室(1),用于放置待测样品(10);信号探测机构(2),可检测到磁体的磁通密度,将磁通密度转换感应电动势成为相应的信号;信号采集机构(3),可将上述信号探测机构(2)产生的信号采集并输送;温控机构(100),使待测样品(10)处于温度稳定的状态下,并显示温度或者可将温度值传输到下述计算机控制系统(6)中;以及计算机控制系统(6),可接受上述信号采集机构(3)输送过来的信号并转换成相应的磁通密度值,该计算机控制系统(6)还可记录样品温度稳定状态下对应温度值及磁通密度值。
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