[发明专利]光纤陀螺磁场－温度灵敏度测试方法

摘要

本发明公开了一种光纤陀螺磁场－温度性能的测试方法。本发明公开的测试方法主要测试步骤是将光纤陀螺水平放置于测试平台，并在磁场中匀速转动，计算机采集光纤陀螺在静态，径向磁场，轴向磁场和不同温度作用下的输出，并分别测试径向/轴向磁场和温度共同作用下光纤陀螺的输出。通过测得磁场值、温度值和相应陀螺输出，可分析光纤陀螺磁场－温度灵敏度，从而评价磁场－温度作用下光纤陀螺的零偏稳定性，为以后建立数学模型，进一步进行光纤陀螺的磁场－温度补偿打下了良好坚实的基础。本发明的测试方法能够测试光纤陀螺径向/轴向磁场灵敏度和温度特性，填补了国内此项研究的空白。

主权项

1、一种光纤陀螺磁场-温度性能的测试方法，其特征在于包括以下步骤：1)将光纤陀螺水平放置于测试平台，计算机采集光纤陀螺静态时输出；2)加磁场，使光纤陀螺处于径向磁场作用下；3)控制光纤陀螺在磁场中匀速转动；4)通过霍尔传感器测量磁场强度，计算机采集光纤陀螺各个方向的径向磁场作用下的输出；5)测试一段时间后，光纤陀螺停止转动，光纤陀螺由垂直水平面方向转过90度，此时，光纤陀螺处于轴向磁场作用下；6)按照步骤3)、步骤4)，计算机采集光纤陀螺各个方向的轴向磁场作用下的输出，关磁场；7)通过半导体制冷器控制光纤陀螺工作温度为0℃～60℃；8)通过温度传感器实时测试温度值，计算机采集光纤陀螺在不同温度环境下的输出；9)按照步骤2)、步骤3)、步骤7)、步骤8)，测试径向磁场和温度共同作用下，光纤陀螺的输出。10)按照步骤5)、步骤7)、步骤8)，测试轴向磁场和温度共同作用下，光纤陀螺的输出。