[发明专利]微型萃取装置及高纯金中微量杂质元素的微萃取测定方法无效
| 申请号： | 200810058494.3 | 申请日： | 2008-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN101285744A | 公开（公告）日： | 2008-10-15 |
| 发明（设计）人： | 李银科;胡秋芬;黄章杰;杨项军;韦群艳;杨光宇;黄云 | 申请（专利权）人： | 玉溪师范学院 |
| 主分类号： | G01N1/34 | 分类号： | G01N1/34;G01N1/40;G01N27/64;B01D11/00 |
| 代理公司： | 云南协立专利事务所 | 代理人： | 姜开侠 |
| 地址： | 653100*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微型萃取装置及高纯金中微量杂质元素的微萃取测定方法。微型萃取装置包括套管(1)和分离活塞(2)，两者密封配合，分离活塞中心部位设有毛细管(3)。微萃取测定方法包括微波消化、金基体微萃取分离、优化仪器工作参数、选择同位素和内标物、扣除同离子干扰、半定量扫描、标准溶液配制，然后用等离子质谱仪进行测定，计算结果。本发明采用了微型萃取装置萃取基体金，一次性萃取率就可以达到98％，而且杂质的回收率高达95％，金的存在不再干扰用ICP－MS对杂质元素的测定。该方法的检测灵敏度高，检出限低，而且样品用量少，分析速度快，是一种痕量分析方法。 | ||
| 搜索关键词： | 微型 萃取 装置 纯金 微量 杂质 元素 测定 方法 | ||
【主权项】：
1、一种微型萃取装置，包括套管(1)和分离活塞(2)，其特征是：套管(1)和分离活塞(2)两者密封配合，分离活塞中心部位设有毛细管(3)。
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