[发明专利]利用光纤光栅传感器在低温下测量应变的方法无效

专利信息
申请号: 200810057158.7 申请日: 2008-01-30
公开(公告)号: CN101221043A 公开(公告)日: 2008-07-16
发明(设计)人: 黄国君;戴锋 申请(专利权)人: 中国科学院力学研究所
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16;G01D5/353
代理公司: 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 代理人: 尹振启
地址: 100080北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开一种利用光纤光栅传感器在低温下测量应变的方法,该方法包括步骤:a)选取长度为l的FBG基本元件;b)在被测的表面均匀涂敷低温粘合剂,该粘合剂覆盖的长度L大于FBG基本元件的长度l;c)将FBG基本元件粘结到被测表面,使FBG位于粘结区的中心区,此时,粘和长度L大于FBG基本元件的长度l,并包覆FBG基本元件;d)根据FBG中心波长的变化测量出被测元件应变的大小。由于上述方法,克服了多峰现象,也克服了长期以来认为多峰现象是由于光学机制而非力学机制造成的偏见,使FBG传感器在液氮等低温条件下对应变进行精确的测量。
搜索关键词: 利用 光纤 光栅 传感器 低温 测量 应变 方法
【主权项】:
1.一种利用FBG传感器在低温下测量应变的方法,其特征在于:包括步骤:a)选取长度为1的FBG基本元件;b)在被测的表面均匀涂敷低温粘合剂,该粘合剂覆盖的长度L大于FBG基本元件的长度1;c)将FBG基本元件粘结到被测表面,使FBG位于粘结区的中心区,此时,粘和长度L大于FBG基本元件的长度1,并包覆FBG基本元件;d)根据FBG中心波长的变化测量出被测元件应变的大小。
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