[实用新型]显微镜支架检测器具无效
| 申请号： | 200720074231.2 | 申请日： | 2007-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN201075148Y | 公开（公告）日： | 2008-06-18 |
| 发明（设计）人： | 陈阿芳;方立新 | 申请（专利权）人： | 上海广濑－关勒铭精密机械有限公司 |
| 主分类号： | G02B21/00 | 分类号： | G02B21/00;G01B9/04 |
| 代理公司： | 上海恩田旭诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘峰 |
| 地址： | 201702上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种显微镜支架检测器具，包括一基板，所述基板上滑动设置有用于将待检工件定位并送入检测区域的滑板装置；所述基板一侧还固定设置有用于检测待检工件高度、宽度及上下宽度偏斜度的立柱装置；所述立柱装置上端设置有用于检测待检工件同轴度、垂直度的摆杆装置。由于采用了上述结构，本实用新型获得了使用便利、成本低、效率高、精确性好、稳定性高的有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 显微镜 支架 检测 器具 | ||
【主权项】：
1.一种显微镜支架检测器具，包括一基板，其特征在于：所述基板上滑动设置有用于将待检工件定位并送入检测区域的滑板装置；所述基板一侧还固定设置有用于检测待检工件高度、宽度及上下宽度偏斜度的立柱装置；所述立柱装置上端设置有用于检测待检工件同轴度、垂直度的摆杆装置。
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