[发明专利]含氧缺陷的氧化硅复合硒化镉纳米晶的制备方法无效

专利信息
申请号: 200710057764.4 申请日: 2007-06-27
公开(公告)号: CN101096582A 公开(公告)日: 2008-01-02
发明(设计)人: 李亚利;钱力鹏;侯峰;张良宏 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: C09K3/00 分类号: C09K3/00;C09K11/88
代理公司: 天津市杰盈专利代理有限公司 代理人: 赵敬
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种含氧缺陷的氧化硅复合硒化镉纳米晶的制备方法,属于氧化硅的纳米复合材料技术。该方法包括以下过程:首先,在真空加热的石英管反应器中,在氩气保护下,将石英管加热至600-1200℃,将硅氧烷送入石英管的高温区中,反应5min,降温至20-30℃后,得到SiOx纤维,其中1<x<2,再以含氧缺陷的氧化硅纤维和硒化镉纳米晶按质量比分散在甲苯、正己烷、正庚烷或丙酮中,超声分散,在惰性气氛下加热搅拌反应,得到含氧缺陷的氧化硅复合硒化镉纳米晶的结构。本发明的优点在于采用含有氧缺陷的氧化硅为原料,与未经任何处理的硒化镉纳米晶在溶液中反应,得到氧化硅复合硒化镉纳米晶的结构。此氧化硅复合纳米晶结构吸附均匀,一致性好。
搜索关键词: 缺陷 氧化 复合 硒化镉 纳米 制备 方法
【主权项】:
1.一种含氧缺陷的氧化硅复合硒化镉纳米晶的制备方法,其特征在于包括以下过程:首先,以硅氧烷为原料,在真空加热的石英管反应器中,在氩气保护下,将石英管加热至600-1200℃,将硅氧烷送入石英管的高温区中,反应5min,再经自然冷却,降温至20-30℃后,得到平均直径为45nm的SiOx纤维,其中1<x<2,再以含氧缺陷的氧化硅纤维和粒径为1-10nm的硒化镉纳米晶按质量比为1∶(0.1-1)分散在甲苯、正己烷、正庚烷或丙酮中,超声分散5-30min,然后转入三口瓶中,在氩气或氮气气氛下加热至40-80℃,搅拌反应5-60min,得到含氧缺陷的氧化硅复合硒化镉纳米晶的结构。
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