[实用新型]一种晶间腐蚀试验装置无效
| 申请号： | 200620124522.3 | 申请日： | 2006-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN2914069Y | 公开（公告）日： | 2007-06-20 |
| 发明（设计）人： | 张丽霞 | 申请（专利权）人： | 航天科工防御技术研究试验中心 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 | 代理人： | 岳洁菱;许可英 |
| 地址： | 100854北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种晶间腐蚀试验装置由电加热套(1)、平面盖板(4)、截口烧杯(2)等组成，截口烧杯(2)置于电加热套(1)中，平面盖板(4)置于截口烧杯(2)上，回流冷凝管(6)与平面盖板(4)中心孔中的橡胶塞环(7)插接固定，温度传感器(6)和压力传感器(5)分别插接于平面盖板(4)中心孔的两侧。电热套(1)通电加热，使截口烧杯(2)中的溶液、试验样品和铜屑升温；在装样和取样时，将平面盖板(4)连同固定在它上面的回流冷凝管(6)、温度传感器(8)和压力传感器(5)一同取下，将截口烧杯(2)取出，便可以通过宽敞的杯口装样和取样。本装置取样快捷且容易操作，工作效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶间腐蚀 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种晶间腐蚀试验装置由电加热套(1)、温度传感器(8)、压力传感器(5)、平面盖板(4)、截口烧杯(2)、密封圈(3)、橡胶塞环(7)和回流冷凝管(6)等组成，其特征在于截口烧杯(2)置于电加热套(1)中，平面盖板(4)置于截口烧杯(2)上，平面盖板(4)与截口烧杯(2)接触面的环形槽内嵌有密封圈(3)，回流冷凝管(6)与平面盖板(4)中心孔中的橡胶塞环(7)插接固定，温度传感器(6)和压力传感器(5)分别插接于平面盖板(4)中心孔的两侧。
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