[发明专利]对计算机断层造影系统进行辐射校正的方法无效

专利信息
申请号: 200610130926.8 申请日: 2006-10-10
公开(公告)号: CN101028195A 公开(公告)日: 2007-09-05
发明(设计)人: 赫伯特·布鲁德;马丁·彼得西尔卡;雷纳·劳佩克;卡尔·施蒂尔斯托弗 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00;G01T1/161
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 杨梧;郝俊梅
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种对CT系统进行散射校正的方法,CT系统具有至少两个角度相互错开运行的焦点/检测器系统。其中,在至少一个至少在部分区域中与对象相似的模型上,对至少一个焦点/检测器系统确定在至少一个其它焦点/检测器系统的焦点运行时在该焦点/检测器系统的检测器中出现的散射的强度,并对焦点/检测器系统的多个旋转角存储散射强度的空间分布。在用第一焦点/检测器系统的测得的强度扫描对象时,在考虑焦点/检测器系统的空间定向和观察的射线的情况下,减去源自至少另一焦点/检测器系统的、利用相似模型确定的散射强度,并利用这样校正的强度值计算吸收值akorr=-ln(I’/I0),并由此再现CT图像或CT立体数据。
搜索关键词: 计算机 断层 造影 系统 进行 辐射 校正 方法
【主权项】:
1.一种用于对计算机断层造影系统(1)进行散射校正的方法,该计算机断层造影系统(1)具有至少两个角度相互错开地设置在可旋转支架上并同时运行的焦点/检测器系统(FDSA,FDSB),其中,1.1.为了对对象(7)进行扫描,该角度相互错开设置的焦点/检测器系统(FDSA,FDSB)对该对象(7)进行扫描,其中,它们绕计算机断层造影系统的系统轴(9)旋转,并对多个单独的射线(S)根据所测量的测得的射线强度I与未经衰减的射线强度I0的关系来确定吸收值a=-ln(I/I0),1.2.将该测量的值用于散射校正,以及1.3.借助所确定的吸收数据,再现对象(7)的计算机断层造影图像或计算机断层造影立体数据,其特征在于,1.4.在至少一个至少在部分区域中与受检对象(7)相似的模型(P)上,对于至少一个焦点/检测器系统(FDSA,FDSB),确定在至少一个其它焦点/检测器系统(FDSB)的至少一个焦点(FB)运行时在焦点/检测器系统(FDSA)的检测器(3)中出现的散射的强度,并对于焦点/检测器系统(FDSA,FDSB)的多个旋转角存储该散射强度的空间分布,1.5.在用第一焦点/检测器系统(FDSA)的测得的强度对对象(7)进行扫描时,在考虑所述焦点/检测器系统(FDSA,FDSB)的空间定向以及各观察的射线的情况下,减去源自于至少另一个焦点/检测器系统(FDSB)的、利用相似模型(P)确定的散射强度,以及1.6.利用这样校正的强度值(I’)计算吸收值akorr=-ln(I’/I0),并由此再现计算机断层造影图像或计算机断层造影立体数据。
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