[发明专利]可同时多颗平行置入测试的IC检测机

摘要

本发明是一种可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其包括有供料匣、收料匣、输入端IC输送机构、输出端IC输送机构、测试埠、载送治具以及轨道传送机构；输入端IC输送机构是将供料匣上的待测IC吸取移置到载送治具，并使载送治具上同时承置多颗的待测IC，所述的载送治具是利用轨道传送机构将载送治具直接移送到测试埠内，以同时进行多颗IC的测试作业，并在完成测试作业后，利用轨道传送机构将载送治具移出测试埠，再以输出端IC输送机构将载送治具内各完测的IC进行分类取放在各收料匣内；如此不仅可大幅缩减IC交换取放移置的时间，也可有效缩减IC测试的时间，进而使检测机有效提升测试的产能，提高了使用效益。

主权项

1.一种可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其特征在于：其主要包括有：至少一供料匣：承置有复数个待测的IC；至少一收料匣：供承置完测的IC；至少一测试埠：是装设有连结测试讯号到中央控制器的测试板，所述的测试板上并设有可供待测IC置入以进行IC的测试作业的复数个测试座；轨道传送机构：是架设在测试埠的周侧；至少一载送治具：是承置在轨道传送机构上，而可由轨道传送机构移送到各作业站，以进行入料、测试与出料作业，所述的载送治具并排列设有可以同时承置多颗IC的复数个承置座；至少一IC输送机构：是设有可作多方向位移而可在供料匣、收料匣与载送治具之间吸取移置IC的取放头。