[发明专利]测试卡无效

专利信息
申请号: 200610034410.3 申请日: 2006-03-20
公开(公告)号: CN101042667A 公开(公告)日: 2007-09-26
发明(设计)人: 林诗窈;陈文宾 申请(专利权)人: 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神达电脑股份有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 528308广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种用以对系统进行负载测试的测试卡,其主要包括一印刷电路板、设置于其上用于与插槽进行电性连接的金手指、与金手指连接的开关以及若干个并联电阻组;其中,所述并联电阻组的一端是与开关相连,另一端连接于地。通过切换所述开关的开与关,来达到对所需负载进行自行切换,而对系统进行功耗测试。该种测试方式中,是将功率消耗分布在较多的电阻上,既可将热平均分散,也可避免组件过热。本发明所述测试卡结构简单,易实现,具有较佳的实用价值。
搜索关键词: 测试
【主权项】:
1.一种用以对系统进行负载测试的测试卡,其特征在于:该所述测试卡包括一单个接口;至少一开关,其与上述接口连接;若干个电阻组,其中,所述电阻组一端与上述开关连接,另一端则接地;以及一印刷电路板,上述单个接口、开关以及若干个电阻组均位于其上。
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