[发明专利]用作传感器校准和自检用氢源的纳米晶态和/或亚稳态金属氢化物无效
| 申请号： | 200580047344.7 | 申请日： | 2005-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN101111766A | 公开（公告）日： | 2008-01-23 |
| 发明（设计）人： | J·Z·刘 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01N33/00 | 分类号： | G01N33/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 段晓玲;韦欣华 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本文公开了传感器系统和方法。一般而言，提供传感器以检测靠近所述传感器部件的区域中气体(例如，氢气)的存在。复合材料通常和传感器连接，其中所述复合材料包含用于存储气体的金属氢化物材料。也提供加热器将金属氢化物材料加热到特定温度，在该温度氢气从金属氢化物材料中释放出来，以针对检测气体的存在性对所述传感器进行校准和自检。 | ||
| 搜索关键词： | 用作 传感器 校准 自检 用氢源 纳米 晶态 亚稳态 金属 氢化物 | ||
【主权项】：
1.传感器系统，包括：传感器，用于探测靠近所述传感器部件的区域中气体的存在；连接到所述传感器的复合材料，其中所述复合材料包括用于存储气体的金属氢化物材料；和加热器，用于加热所述金属氢化物材料到特定温度，在该温度下气体从所述金属氢化物材料中释放出来，以便对所述传感器针对检测所述气体的存在性进行校准和自检。
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