[发明专利]荧光显微镜及荧光相关光谱分析装置无效
| 申请号： | 200580029864.5 | 申请日： | 2005-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN101019018A | 公开（公告）日： | 2007-08-15 |
| 发明（设计）人： | 长谷川宽;伊崎泰则 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 荧光显微镜(11)，具有物镜(101)、分色镜(102)、半透镜(105)、反射镜(106)、激光源(111)、ND滤光器(112)、光束扩展器(113)、反射镜(114)、空间光调制元件(115)、透镜(131)、带通滤波器(132)、空间光调制元件(133)、检测部(134)。空间光调制元件(115)，其空间光调制为可变的，并且通过经由以后的光学系统，向被测试样(1)上照射进行空间调制后的激发光，可以对被测试样(1)中的激发光照射区域的个数、位置、形状进行设定。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光显微镜 荧光 相关 光谱分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种荧光显微镜，向被测试样照射激发光并检测与之对应而产生的荧光，其特征在于，具有：激发光源部，输出激发光；激发光照射光学系统，具有对从所述激发光源部输出的激发光进行空间调制的空间光调制元件，并将由该空间光调制元件进行空间调制后的激发光照射于所述被测试样上；荧光检测光学系统，接受在利用所述激发光照射光学系统照射激发光的区域上产生的荧光并进行成像，同时，具有对入射到该成像面内的规定区域上的荧光进行选择地输出的选择输出单元；检测部，检测所述选择输出单元输出的荧光的强度。
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