[实用新型]覆层测厚仪无效

专利信息
申请号: 200520114110.7 申请日: 2005-07-15
公开(公告)号: CN2833511Y 公开(公告)日: 2006-11-01
发明(设计)人: 吕旭志;陈翠兰 申请(专利权)人: 北京时代之峰科技有限公司
主分类号: G01B7/06 分类号: G01B7/06
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 马娅佳
地址: 100085北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型有关一种覆层测厚仪,包括有壳体、测头、测量电路、控制模块和显示模块,所述测头位于壳体内并部分伸出于壳体外,用以与被测量表面接触;所述测量电路位于壳体内,与所述测头电连接,接收测头的输入信号并输出信号给控制模块;所述测量电路包括N型测量电路和F型测量电路;所述控制模块与N型测量电路和F型测量电路电连接,接收N型测量电路或F型测量电路的输出信号,并经内部计算转换为一测量数据,输出给显示模块;所述显示模块接收所述控制模块的输出信号,并在一显示器上显示出测量数据。
搜索关键词: 覆层 测厚仪
【主权项】:
1、一种覆层测厚仪,包括有壳体、测头、测量电路、控制模块和显示模块,其特征在于:所述测头位于壳体内并部分伸出于壳体外,用以与被测量表面接触;所述测量电路位于壳体内,与所述测头电连接,接收测头的输入信号并输出信号给控制模块;所述测量电路包括N型测量电路和F型测量电路;所述控制模块与N型测量电路和F型测量电路电连接,接收N型测量电路或F型测量电路的输出信号,并经内部计算转换为一测量数据,输出给显示模块;所述显示模块接收所述控制模块的输出信号,并在一显示器上显示出测量数据。
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