[发明专利]改良电子零件测试建议报告的方法无效

专利信息
申请号: 200510137684.0 申请日: 2005-12-31
公开(公告)号: CN1991883A 公开(公告)日: 2007-07-04
发明(设计)人: 王宏圣;曹惠国;何其烨;游棋辉;马定国 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G06Q10/00 分类号: G06Q10/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 代理人: 梁挥;徐金国
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种改良电子零件测试建议报告的方法,包含提供一测试数据库步骤,此测试数据库储存有电子零件型号数据、电子零件测试类型数据及测试点的权重值高低数据;提供一电路板步骤;提供该电路板的电子零件数据表步骤,此电子零件测试数据表依据电路板提供多电子零件数据;提供一建议报告作业,藉由电子零件数据表与测试数据库比对,取得其多电子零件组件数据对应的测试点及其权重值数据,以提升电路板或主机板的电子零件组件测试涵盖率,避免加入大量电子零件组件的测试点,进而使得测试效率也无法提升。
搜索关键词: 改良 电子零件 测试 建议 报告 方法
【主权项】:
1.一种改良电子零件测试建议报告的方法,其特征在于,包含下列步骤:提供一测试数据库,该测试数据库储存有电子零件型号数据、电子零件测试类型数据及测试点的权重值高低数据;提供一电路板,该电路板具有多个电子零件;提供电路板的电子零件数据表,该电子零件数据表依据该电路板提供该电子零件数据;及提供一建议报告作业,由该电子零件数据表与该测试数据库对比,取得该电子零件数据表的该电子零件数据对应的测试点及其权重值数据,以提高该电路板的测试涵盖率。
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