[发明专利]图案化工艺与接触窗有效
申请号: | 200510090743.3 | 申请日: | 2005-08-15 |
公开(公告)号: | CN1916714A | 公开(公告)日: | 2007-02-21 |
发明(设计)人: | 刘志鸿 | 申请(专利权)人: | 中华映管股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/1333 | 分类号: | G02F1/1333 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王永红 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种图案化工艺,首先提供基板,此基板上已形成有介电层,且介电层上已形成有光刻胶材料层。接着,提供光刻掩膜,此光刻掩膜具有透光的光刻掩膜图案与位于透光的光刻掩膜图案周围的局部曝光图案。接下来,透过上述光刻掩膜对光刻胶材料层进行曝光。继之,对光刻胶材料层进行显影,以在光刻胶材料层中形成开口图案,且光刻胶材料层的开口图案的侧壁具有小于90度的倾斜度。接下来,利用此光刻胶材料层对介电层进行蚀刻,以于介电层中形成接触窗开口。之后,移除光刻胶材料层。通过上述的局部曝光图案,可改变光刻掩膜图案边缘的曝光量,进而能够蚀刻出具有小于90度的倾斜度的侧壁的图案,以改善后续沉积的薄膜的膜厚均匀性。 | ||
搜索关键词: | 图案 化工 接触 | ||
【主权项】:
1.一种图案化工艺,其特征在于包括:提供基板,该基板上已形成有介电层,且该介电层上已形成有光刻胶材料层;提供光刻掩膜,该光刻掩膜具有透光的光刻掩膜图案与位于该透光的光刻掩膜图案周围的局部曝光图案;透过该光刻掩膜对该光刻胶材料层进行曝光;对该光刻胶材料层进行显影,以在该光刻胶材料层中形成开口图案,且该光刻胶材料层的该开口图案的侧壁具有小于90度的倾斜度;利用该光刻胶材料层对该介电层进行蚀刻,以于该介电层中形成接触窗开口;以及移除该光刻胶材料层。
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