[发明专利]光学双工器和光学三工器无效
| 申请号： | 200510070390.0 | 申请日： | 2005-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN1737619A | 公开（公告）日： | 2006-02-22 |
| 发明（设计）人： | 艾德里安·奥唐奈;吴芳;瓦莱里·I·托斯蒂凯恩 | 申请（专利权）人： | 光子学测量有限公司 |
| 主分类号： | G02B6/10 | 分类号： | G02B6/10;G02B6/42;G02B6/26;H04B10/12 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 | 代理人： | 蔡晓红 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 一种光学三工器设计被描述，其中，在第一波长范围的外部的光信号通过激光源传输。该激光源提供具有第二波长范围的光信号。该三工器以一个用于提供强度反馈信号给该激光源的光电探测器和一个用于解复用该外部光信号的密集波分复用器为特征。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 双工器 三工器 | ||
【主权项】：
1.一种光学元件包括：基底；用于提供对应于激光波长范围的一个特征波长的光线的激光器，该激光器具有第一激光端和第二激光端，该第二激光端用于接收具有对应于不同于该激光波长范围的第一预定波长的波长的第一外部光信号；设置在该基底上且被光学耦合到该激光器的第一光电探测器，所述第一光电探测器用于提供相应于由该激光器提供的光信号的强度的数据；其特征在于，该光学元件进一步包括：具有第一输出端和一个输入端的滤波器，该滤波器用于在该输入端接收包括第一外部光信号的光线，及用于根据其波长滤波该光线，所述滤波器用于在第一输出端提供对应于第一预定波长范围的光线；以及设置在该基底上并被光学耦合到该第一输出端的第二光电探测器，所述第二光电探测器用于提供对应于其上入射光线的强度的数据输出信号。
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