[发明专利]半导体集成电路装置及其测试方法有效
| 申请号： | 200410074129.3 | 申请日： | 2004-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN1591678A | 公开（公告）日： | 2005-03-09 |
| 发明（设计）人： | 白滨政则;县政志;川崎利昭;西原龙二 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G11C11/34 | 分类号： | G11C11/34;G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 酆迅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种半导体集成电路装置，包括：第一和第二非易失性存储元件；第一放大器，用于放大第一非易失性存储元件的输出信号，以输出放大了的信号；以及第二放大器，用于向第一放大器输出控制信号，该控制信号是通过放大第二非易失性存储元件的输出信号而产生的。第二放大器基于存储在第二非易失性存储元件中的数据，将第一放大器的输出信号固定在高电势或低电势。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 装置 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路装置，包括：第一和第二非易失性存储元件；第一放大器，用于放大第一非易失性存储元件的输出信号，以输出放大了的信号；以及第二放大器，用于向第一放大器输出控制信号，该控制信号是通过放大第二非易失性存储元件的输出信号而产生的，其中，第二放大器基于存储于第二非易失性存储元件中的数据将第一放大器的输出信号固定在高电势或低电势。
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