[发明专利]基于模型控制的设备快速测试无效
申请号: | 03155131.9 | 申请日: | 2003-08-22 |
公开(公告)号: | CN1495584A | 公开(公告)日: | 2004-05-12 |
发明(设计)人: | S·L·科撒雷;J·A·曼德勒 | 申请(专利权)人: | 气体产品与化学公司 |
主分类号: | G05B23/00 | 分类号: | G05B23/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 栾本生;张志醒 |
地址: | 美国宾夕*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于设计扰动信号对一个系统的大量输入变量进行激励的方法和装置,其目的是为了获得一个基于模型控制器综合模型而测试该系统。该方法首先必须向系统提供输入参数。基于这些输入参数发生大量的二位式多频(BMF)信号并计算出这些BMF信号的频谱。从一组BMF信号中选择一个,并使得所选BMF信号的频谱与由输入参数指定的频谱最匹配。然后将所选BMF信号用作测试该系统的第一扰动信号。还必须通过预先确定数量的样本对所选BMF信号进行移位以产生原始BMF信号的延迟副本并将其作为附加扰动信号。 | ||
搜索关键词: | 基于 模型 控制 设备 快速 测试 | ||
【主权项】:
1.一种适合于激励预先确定数量的系统输入变量的扰动信号发生方法,其目的是为了获得一个基于模型控制器综合模型而测试该系统,该方法包括如下步骤:(a)提供系统的输入参数;(b)基于该输入参数发生大量二位式多频(BMF)信号;(c)计算步骤(b)中所发生的BMF信号频谱;(d)选择步骤(b)中该组BMF信号中的一个,所选BMF信号频谱与由输入参数指定的频谱最匹配;(e)将步骤(d)所选的BMF信号用作系统测试的第一扰动信号;以及(f)将步骤(d)所选的BMF信号移位样本的一定数量延迟时间以发生步骤(e)所选的BMF信号的一个延迟副本用作系统测试的第二扰动信号。
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