[发明专利]参数估计装置和数据匹配装置有效
申请号: | 02803494.5 | 申请日: | 2002-09-25 |
公开(公告)号: | CN1484816A | 公开(公告)日: | 2004-03-24 |
发明(设计)人: | 早田启介;长尾健司 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 黄小临;王志森 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 为了学习作为输入的观察模式和从输入估计输出的模式之间的相关性,输入组成观察模式的第一培训向量和组成估计目标的第二培训向量。计算在两个培训向量上的自相关信息,两个培训向量的平均向量和在第一和第二培训向量之间的互相关信息。通过使用这些且基于对于输入模式估计目标的贝里斯理论来计算可能的希望值。以低的计算消耗能够精确地估计所期望的参数。 | ||
搜索关键词: | 参数估计 装置 数据 匹配 | ||
【主权项】:
1.一种参数估计装置,包括:图像输入部分,它将光学数据转变成电子数据;参数输入部分,它从所述图像输入部分输入的第一电子数据输入第一特征点的坐标;学习部分,它从第一电子数据的多个项目计算自相关信息;从第一电子数据的多个项目和多个第一特征点的坐标计算互相关信息;用所述自相关信息和互相关信息计算,用于估计从图像输入部分输入的第二电子数据的第二特征点的坐标的特征抽取矩阵;和输出从第一电子数据的多个项目计算的第一平均向量、从多个第一特征点的坐标计算的第二平均向量和特征抽取矩阵;相关信息数据库,它存储从学习部分输入的第一平均向量、第二平均向量和特征抽取矩阵;和参数估计部分,它用第二电子数据、第一平均向量、第二平均向量和特征抽取矩阵估计第二特征点坐标。
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