[发明专利]一种阵列光电探测器的制备方法无效

专利信息
申请号: 02144865.5 申请日: 2002-11-16
公开(公告)号: CN1501515A 公开(公告)日: 2004-06-02
发明(设计)人: 马海涛;唐玉国;陈今涌 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;G01J1/02
代理公司: 长春科宇专利代理有限责任公司 代理人: 梁爱荣
地址: 130022吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明属于光电子技术领域,涉及对阵列光电探测器的改进。本发明利用透光狭缝和拼接独立的光电二极管管芯的方法得到一种阵列光电探测器的制备方法。提供了一种低成本光电阵列探测器的实现方法,它可根据需要。实现任意面元间距、面元高度、面元宽度和面元形状,工艺简单,无需开模具,特别适合小批量或单件需求的场合。与背景技术定制产品相比,本发明实现的阵列光电探测器具有成本低、工艺简单、开发周期短等优点。性能价格比高,具有广阔的应用前景。适于单件生产的光电阵列探测器。本发明可应用于光谱测量、光度测量、位置测量、形状测量等诸多方面。
搜索关键词: 一种 阵列 光电 探测器 制备 方法
【主权项】:
1、一种阵列光电探测器的制备方法,其特征在于:第一步:按照面元要求的间距和形状设计PCB基板焊盘的位置和电气连接,并在PCB基板表面镀金;第二步:把光电二极管管芯焊接在PCB基板的焊盘上;利用一个或多个光电二极管管芯在PCB基板的焊接位置构成所需要的面元;第三步,每个面元上方放置一个透光狭缝,用于限制面元的感光面积;第四步,固化封闭PCB基板,就可完成任意的面元间距、面元高度和面元宽度阵列光电探测器的制备。
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