[发明专利]热辐射多次反射效应测定仪及其测定方法无效
| 申请号： | 02123746.8 | 申请日： | 2002-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN1465970A | 公开（公告）日： | 2004-01-07 |
| 发明（设计）人： | 张仁华;孙晓敏;朱治林;唐新斋;苏红波 | 申请（专利权）人： | 中国科学院地理科学与资源研究所 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00 |
| 代理公司： | 北京思创毕升专利事务所 | 代理人： | 韦庆文 |
| 地址： | 100101*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明为热辐射多次反射效应测定仪及其测定方法。本发明公开了一种具有多个V字型检测腔体并能够测定土壤一植被系统热辐射的多次反射效应测定仪。两个V字型腔体水平连接，构成W字型的腔体，使之可以完成三次反射功能。多个V字型腔体水平连接，构成VVV，VVVV等多级腔体，使之可以完成多次反射功能。在多级腔体的每一个折点处安装标准检定板。所有的腔体内侧和标准检定板的内侧镀金。本发明可以应用于测量或分析材料物理性质的领域。 | ||
| 搜索关键词： | 热辐射 多次 反射 效应 测定 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.热辐射多次反射效应测定仪，检测腔体内电镀一层热辐射高反射率物质，其特征是：两个V字型腔体水平连接，组成一个W字型的检测腔体(1)，在腔体(1)的第一分支(2a)上有一个接受光线的入射口，在腔体(1)的最后一个分支(2d)上安装一台红外线测温仪(4)，在腔体(1)的每个折点处安装一块可拆卸的标准检定板(3a)，(3b)，(3c)。
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